當(dāng)前位置:首頁 > 數(shù)控加工設(shè)備 > 正文

數(shù)控加工主要檢測設(shè)備(數(shù)控加工的設(shè)備有哪些)

數(shù)控加工主要檢測設(shè)備詳解及案例分析

一、數(shù)控加工主要檢測設(shè)備詳解

數(shù)控加工,即數(shù)字控制加工,是一種通過計(jì)算機(jī)程序控制機(jī)床進(jìn)行加工的方法。在數(shù)控加工過程中,為確保加工精度和產(chǎn)品質(zhì)量,需要使用一系列的檢測設(shè)備。以下將詳細(xì)介紹數(shù)控加工的主要檢測設(shè)備。

1. 三坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)

三坐標(biāo)測量機(jī)是一種高精度、高效率的測量設(shè)備,廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、模具制造、精密測量等領(lǐng)域。其主要由測量頭、機(jī)械臂、控制器和軟件組成。

(1)測量頭:測量頭是CMM的核心部件,負(fù)責(zé)采集被測物體的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)。常見的測量頭有激光掃描頭、白光掃描頭、接觸式測量頭等。

(2)機(jī)械臂:機(jī)械臂負(fù)責(zé)將測量頭移動(dòng)到被測物體的各個(gè)位置,實(shí)現(xiàn)全方位測量。

(3)控制器:控制器負(fù)責(zé)控制機(jī)械臂和測量頭的運(yùn)動(dòng),以及數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)。

(4)軟件:軟件負(fù)責(zé)測量數(shù)據(jù)的處理、分析、存儲(chǔ)和輸出。

2. 坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)

坐標(biāo)測量機(jī)是一種精度較高的測量設(shè)備,主要用于測量工件的尺寸、形狀和位置誤差。其主要由測量頭、機(jī)械臂、控制器和軟件組成。

(1)測量頭:測量頭負(fù)責(zé)采集被測物體的坐標(biāo)數(shù)據(jù),常見的測量頭有激光掃描頭、白光掃描頭、接觸式測量頭等。

(2)機(jī)械臂:機(jī)械臂負(fù)責(zé)將測量頭移動(dòng)到被測物體的各個(gè)位置,實(shí)現(xiàn)全方位測量。

(3)控制器:控制器負(fù)責(zé)控制機(jī)械臂和測量頭的運(yùn)動(dòng),以及數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)。

(4)軟件:軟件負(fù)責(zé)測量數(shù)據(jù)的處理、分析、存儲(chǔ)和輸出。

3. 非接觸式測量儀

非接觸式測量儀是一種利用光學(xué)、電學(xué)、聲學(xué)等原理進(jìn)行測量的設(shè)備,具有非接觸、快速、高精度等特點(diǎn)。常見的非接觸式測量儀有激光測距儀、光學(xué)投影儀、超聲波測厚儀等。

4. 紅外測溫儀

紅外測溫儀是一種利用紅外線原理進(jìn)行溫度測量的設(shè)備,具有非接觸、快速、高精度等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)、科研、醫(yī)療等領(lǐng)域。

5. 精密測微儀

數(shù)控加工主要檢測設(shè)備(數(shù)控加工的設(shè)備有哪些)

精密測微儀是一種高精度、高靈敏度的測量設(shè)備,主要用于測量微小尺寸和形狀誤差。常見的精密測微儀有光學(xué)測微儀、電子測微儀等。

二、案例分析

1. 案例一:某航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片加工

在航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片加工過程中,使用三坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)對葉片的尺寸和形狀進(jìn)行檢測。檢測發(fā)現(xiàn),葉片的形狀誤差超出了公差范圍,導(dǎo)致葉片無法滿足設(shè)計(jì)要求。經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)是由于加工中心在加工過程中,由于刀具磨損導(dǎo)致加工精度下降所致。

2. 案例二:某汽車零部件加工

在汽車零部件加工過程中,使用坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)對零部件的尺寸和形狀進(jìn)行檢測。檢測發(fā)現(xiàn),零部件的尺寸誤差超出了公差范圍,導(dǎo)致零部件無法安裝。經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)是由于加工中心在加工過程中,由于加工參數(shù)設(shè)置不當(dāng)導(dǎo)致加工精度下降所致。

3. 案例三:某模具加工

在模具加工過程中,使用非接觸式測量儀對模具的尺寸和形狀進(jìn)行檢測。檢測發(fā)現(xiàn),模具的形狀誤差超出了公差范圍,導(dǎo)致模具無法滿足產(chǎn)品要求。經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)是由于模具加工過程中,由于材料變形導(dǎo)致加工精度下降所致。

4. 案例四:某電子元器件加工

在電子元器件加工過程中,使用紅外測溫儀對元器件的溫度進(jìn)行檢測。檢測發(fā)現(xiàn),元器件的溫度超出了設(shè)計(jì)要求,導(dǎo)致元器件性能不穩(wěn)定。經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)是由于加工過程中,由于設(shè)備故障導(dǎo)致溫度控制不穩(wěn)定所致。

5. 案例五:某精密儀器加工

在精密儀器加工過程中,使用精密測微儀對儀器的尺寸和形狀進(jìn)行檢測。檢測發(fā)現(xiàn),儀器的尺寸誤差超出了公差范圍,導(dǎo)致儀器無法滿足設(shè)計(jì)要求。經(jīng)過分析,發(fā)現(xiàn)是由于加工過程中,由于操作人員技術(shù)水平不足導(dǎo)致加工精度下降所致。

三、常見問題問答

1. 問題:CMM的測量精度如何?

回答:CMM的測量精度取決于測量頭、機(jī)械臂、控制器和軟件等部件的精度。一般來說,CMM的測量精度可以達(dá)到0.001mm。

2. 問題:坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)適用于哪些領(lǐng)域?

回答:坐標(biāo)測量機(jī)(CMM)適用于機(jī)械加工、模具制造、精密測量、航空航天、汽車制造等領(lǐng)域。

3. 問題:非接觸式測量儀有哪些優(yōu)點(diǎn)?

回答:非接觸式測量儀具有非接觸、快速、高精度等優(yōu)點(diǎn),適用于精密測量、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域。

數(shù)控加工主要檢測設(shè)備(數(shù)控加工的設(shè)備有哪些)

4. 問題:紅外測溫儀的測量范圍是多少?

回答:紅外測溫儀的測量范圍取決于儀器的型號和性能。一般來說,紅外測溫儀的測量范圍在-50℃至+3000℃之間。

5. 問題:精密測微儀適用于哪些場合?

數(shù)控加工主要檢測設(shè)備(數(shù)控加工的設(shè)備有哪些)

回答:精密測微儀適用于高精度、高靈敏度的測量場合,如精密儀器加工、微電子制造、醫(yī)療器械制造等。

相關(guān)文章:

發(fā)表評論

◎歡迎參與討論,請?jiān)谶@里發(fā)表您的看法、交流您的觀點(diǎn)。